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公开(公告)号:CN102341141B
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201080010987.5
申请日:2010-03-05
Applicant: 住友电木株式会社
IPC: A61M25/00
CPC classification number: A61M25/0045 , A61B1/0011 , A61L29/085 , A61M25/0009 , A61M25/0012 , A61M25/005 , A61M25/0054 , A61M25/0108 , B29C47/0023 , B29C47/025 , B29C47/065 , B29C47/265 , B29C47/28 , B29L2031/7542
Abstract: 导管(10)的鞘(16)中,主腔(20)和直径比主腔(20)小的副腔(30)各自在纵向通孔形成。操作线(40)可滑动地插通于副腔(30)、且前端被固定于鞘(16)的远位端部(15)。鞘(16)是将均由树脂材料构成的第一树脂层(61)和硬度比第一树脂层(61)高的第二树脂层(62)在厚度方向层叠而成。并且,鞘(16)中,第二树脂层(62)的厚度从远位端侧向近位端侧增大。
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公开(公告)号:CN106003459A
公开(公告)日:2016-10-12
申请号:CN201610197364.2
申请日:2016-03-31
Applicant: 住友电木株式会社
CPC classification number: H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/48247 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012 , B29B9/06 , H01L21/56 , H01L23/293 , H01L23/295
Abstract: 根据本发明,提供半导体密封用环氧树脂粒状体的制造方法、半导体密封用环氧树脂粒状体、半导体装置的制造方法和半导体装置。本发明的半导体密封用环氧树脂粒状体的制造方法为在利用压缩成形将半导体元件密封而成的半导体装置中使用的半导体密封用环氧树脂粒状体的制造方法,其包括:准备半导体密封用环氧树脂组合物的工序;将半导体密封用环氧树脂组合物设置在挤出成形机中的工序;和利用热切割法将从挤出成形机中挤出的由半导体密封用环氧树脂组合物构成的树脂块的前端部切断而得到半导体密封用环氧树脂粒状体的工序,半导体密封用环氧树脂组合物的使用高化式流动试验仪测得的175℃的熔融粘度为0.5Pa·S以上20Pa·S以下。
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公开(公告)号:CN102341141A
公开(公告)日:2012-02-01
申请号:CN201080010987.5
申请日:2010-03-05
Applicant: 住友电木株式会社
IPC: A61M25/00
CPC classification number: A61M25/0045 , A61B1/0011 , A61L29/085 , A61M25/0009 , A61M25/0012 , A61M25/005 , A61M25/0054 , A61M25/0108 , B29C47/0023 , B29C47/025 , B29C47/065 , B29C47/265 , B29C47/28 , B29L2031/7542
Abstract: 导管(10)的鞘(16)中,主腔(20)和直径比主腔(20)小的副腔(30)各自在纵向通孔形成。操作线(40)可滑动地插通于副腔(30)、且前端被固定于鞘(16)的远位端部(15)。鞘(16)是将均由树脂材料构成的第一树脂层(61)和硬度比第一树脂层(61)高的第二树脂层(62)在厚度方向层叠而成。并且,鞘(16)中,第二树脂层(62)的厚度从远位端侧向近位端侧增大。
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