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公开(公告)号：CN115769055A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202180046840.X
申请日：2021-08-20
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明是对具备层叠偏振膜(11)和相位差膜(14)而成的圆偏振板(1)的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。将光源(2)、第一直线偏振板(3A)、与第一直线偏振板(3A)构成正交尼科耳状态的第二直线偏振板(3B)、使偏振膜(11)侧朝向第一直线偏振板(3A)侧的被检查物(10)、以及抑制光源(2)所发出的光的反射的反射抑制结构物(20)设为规定的配置，在此基础上，使光源(2)的光向第一直线偏振板(3A)入射，从第二直线偏振板(3B)侧对被被检查物(10)反射的光进行观察，从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。利用该检查方法也能够容易地检测出利用透射型的检查方法难以检测出的变形缺陷。
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公开(公告)号：CN111721776A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010186941.4
申请日：2020-03-17
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/95 , G01N21/958 , G01M11/02
Abstract: 本发明提供可容易地判断圆偏振板有无缺陷的检查方法及检查装置。依次排列地配置具备圆偏振板(1)及由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂形成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)、相位差板(4)、以及与圆偏振板(1)构成正交尼克尔棱镜的相位差滤光片(3)，从被检查物(10)侧或相位差滤光片(3)侧中的任一侧使光入射，从另一侧进行观察来判断圆偏振板(1)有无缺陷。在该检查中，作为相位差板(4)而依次使用第一相位差板以及具有与第一相位差板不同的面内相位差的第二相位差板。
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公开(公告)号：CN116001025A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211276706.1
申请日：2022-10-18
Applicant: 住友化学株式会社
Inventor： 小林信次
Abstract: 提供能够在减少冲裁屑的同时冲裁出尺寸精度优异的膜片的冲裁刀。用于从长条状的原料膜冲裁出大致方形的膜片的冲裁刀构成为组合两个通过一次冲裁而形成的冲裁线而形成一个膜片的四边整体。冲裁线包含两个以上的第一切断线，该第一切断线具有第一边、与第一边对置的第二边、将第一边与第二边连接的第三边、及第四边。第一边至第三边构成上述四边中的三边，第四边构成剩余的一边的一部分。第三边及第四边为直线状的边。彼此相邻的两个第一切断线(1)及第一切断线(2)彼此平行，且第一切断线(1)的第二边及第三边与第一切断线(2)的第四边对置。用于形成第一切断线中的第二边的刀的厚度大于用于形成第一切断线中的第二边以外的边的刀的厚度。
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公开(公告)号：CN115867779A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202180046788.8
申请日：2021-08-19
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供对具备圆偏振板(1)以及由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂构成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。将光源(2)、第一相位差滤光片(3A)、第一相位差板(4A)、被检查物(10)、第二相位差板(4B)以及第二相位差滤光片(3B)设为规定的配置，对被被检查物(10)反射的光进行观察，从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。接着，将第一相位差板(4A)以及第二相位差板(4B)分别置换为相对于波长550nm的光的面内相位差值不同的第三相位差板以及第四相位差板，并再次使光入射，从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。利用该检查方法也能够容易地检测出利用透射型的检查方法难以检测出的变形缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119510329A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411143732.6
申请日：2024-08-20
Applicant: 住友化学株式会社
Inventor： 小林信次
Abstract: 本发明提供一种能够容易地判断圆偏振板有无缺陷的技术，涉及检查方法、检查装置及层叠体的制造方法。一个实施方式的检查方法对具备具有第1直线偏振板和第1相位差膜的第1圆偏振板及由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂形成的剥离膜的层叠体所具有的第1圆偏振板的缺陷的有无进行检查，该检查方法具备：照射工序，在包含规定波长的检查波长范围内使波长随时间变化的同时或者使波长随空间变化的状态下，向层叠体照射检查光；检测工序，检测从被照射了检查光的层叠体的剥离膜侧输出的检查光；以及判定工序，基于检测结果判定第1圆偏振板有无缺陷，规定波长是因规定波长的光透射剥离膜而产生第1相位差或第2相位差的波长。
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公开(公告)号：CN111721776B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202010186941.4
申请日：2020-03-17
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/95 , G01N21/958 , G01M11/02
Abstract: 本发明提供可容易地判断圆偏振板有无缺陷的检查方法及检查装置。依次排列地配置具备圆偏振板(1)及由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂形成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)、相位差板(4)、以及与圆偏振板(1)构成正交尼克尔棱镜的相位差滤光片(3)，从被检查物(10)侧或相位差滤光片(3)侧中的任一侧使光入射，从另一侧进行观察来判断圆偏振板(1)有无缺陷。在该检查中，作为相位差板(4)而依次使用第一相位差板以及具有与第一相位差板不同的面内相位差的第二相位差板。
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公开(公告)号：CN116420101A
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202180066971.4
申请日：2021-10-25
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G02B5/30
Abstract: 本发明是对具备层叠偏振膜(11)和相位差膜(14)而成的圆偏振板(1)、以及层叠在圆偏振板(1)的相位差膜(14)侧且由聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂构成的剥离膜(16a)的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。配置光源(4)、透过规定的波长的光的带通滤光片(2)、第一偏振部(3A)、被检查物(10)以及第二偏振部(3B)，以使剥离膜(16a)所具有的相位差的影响变小的方式使光向被检查物(10)的入射角θ发生变化。从第二偏振部(3B)侧对被被检查物(10)反射的光进行观察，从而判断圆偏振板(1)有无缺陷。
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公开(公告)号：CN115015281A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202210198556.0
申请日：2022-03-01
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/896 , G01N21/89
Abstract: 提供缺陷检查方法及缺陷检查装置，在以在直线偏振板层叠有防护膜和剥离膜的光学膜为被检物的情况下，能检出直线偏振板光学特性不均。缺陷检查方法是以具有直线偏振板的光学膜为被检物的该直线偏振板的缺陷检查方法，该光学膜依次具有剥离膜、该直线偏振板和防护膜，该防护膜具有取向轴，且被层叠为使该取向轴与该直线偏振板的吸收轴所成角度为0°±30°的范围，该缺陷检查方法具有配置工序，沿光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、相位差补偿板、该光学膜以及具有第2偏振片的第2滤光片，且将该光学膜以使该剥离膜侧的表面与该相位差补偿板相面对的方向配置，且满足：(b1)该第2偏振片的吸收轴与该防护膜的该取向轴所成角度为90°±5°的范围内。
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公开(公告)号：CN115867780A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202180046819.X
申请日：2021-08-19
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供对具备异形的圆偏振板的膜状的被检查物(10)有无缺陷进行判断的检查方法。将光源(2)、第一相位差滤光片(3A)、第一相位差板(4A)、被检查物(10)、第二相位差板(4B)、第二相位差滤光片(3B)以在光路(9)上依次排列的方式进行配置，使光入射，从而判断圆偏振板有无缺陷。接着，将第一相位差板(4A)以及第二相位差板(4B)分别置换为波长550nm处的面内相位差值不同的第三相位差板以及第四相位差板，再次使光入射，从而判断圆偏振板有无缺陷。由于第一相位差滤光片(3A)与第二相位差滤光片(3B)构成正交尼科耳状态，因此来自被检查物(10)的异形部分的漏光得到大幅度抑制，从而容易进行异形部分的附近的检查。
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