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公开(公告)号：CN108535274B
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN201810170418.5
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: G01N21/892 , G01N2021/8924 , G01N2021/8925
Abstract: 本发明提供即使在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅有飞沫的情况下，也能够抑制飞沫附着于膜的缺陷位置以外的区域，从而提高产品的成品率的标注装置、缺陷检查系统以及膜制造方法。标注装置能够通过对光学膜射出液滴而标注信息，其中，标注装置具备：液滴射出装置，其具有形成有向光学膜射出液滴的射出孔的射出面；以及吸引装置，其设置在射出面与光学膜之间，且能够吸引在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅的飞沫。
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公开(公告)号：CN108535253B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN201810169816.5
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社
Abstract: 本发明提供即使在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅有飞沫的情况下，也能够抑制飞沫附着于膜的缺陷位置以外的区域，从而提高产品的成品率的标注装置、缺陷检查系统以及膜制造方法。标注装置能够通过对光学膜射出液滴而标注信息，其中，标注装置具备：液滴射出装置，其具有形成有向光学膜射出液滴的射出孔的射出面；以及飞溅限制构件，其设置在射出面与光学膜之间，且能够遮挡在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅的飞沫，在飞溅限制构件形成有沿与射出面的法线交叉的方向延展的遮挡面。
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公开(公告)号：CN105408737B
公开(公告)日：2018-12-07
申请号：CN201480042672.7
申请日：2014-07-31
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892 , B65H20/02 , G01N21/89
Abstract: 缺陷检查系统具备：输送带状的膜的膜输送部；进行通过上述膜输送部输送的上述膜的缺陷检查的缺陷检查部；以及在上述膜输送部构成的膜输送路径中相比上述缺陷检查部设置在下游侧、并且能够将与通过上述缺陷检查部检测到的缺陷有关的缺陷信息记录于上述膜的记录部。上述膜输送部包括分别在通过上述记录部在上述膜的第1面记录上述缺陷信息的第1模式以及在第2面记录上述缺陷信息的第2模式下被缠绕上述膜的第1输送辊部、以及在上述第1模式以及上述第2模式中的某一个模式下被缠绕上述膜的第2输送辊部。
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公开(公告)号：CN107407641A
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201680011973.2
申请日：2016-03-14
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892 , G01N21/896
CPC classification number: G01N21/892 , G01N21/896
Abstract: 层叠光学膜的缺陷检查方法包括进行光学膜(11)的缺陷检查的第一检查工序、向光学膜(11)贴合保护膜(12)以及粘合件(13)而生成层叠光学膜(10A、10B)的工序、将在第一检查工序中检测出的缺陷(20)的信息以代码(40)的形式记录于层叠光学膜(10A)的记录工序、进行层叠光学膜(10B)的缺陷检查的第二检查工序、与在第一检查工序中检测出的缺陷(20)以及在第二检查工序中检测出的缺陷(21)对应地对层叠光学膜(10B)进行标记的标记工序，在第二检查工序中，读取在记录工序中所记录的缺陷信息，不重复检测与该缺陷信息对应的缺陷(20)。
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公开(公告)号：CN108535259A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810169825.4
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社
Abstract: 本发明提供适于表示缺陷的位置的缺陷标注方法及缺陷标注装置、卷料的制造方法及卷料、以及片的制造方法及片。缺陷标注方法进行被检查物的缺陷检查，并根据缺陷检查的结果而在被检查物的缺陷位置实施标注，以缺陷(D)位于在被检查物的面内的与一方向交叉的另一方向上相邻的第一印刷图案(PT1)与第二印刷图案(PT2)之间的方式在被检查物的表面印刷第一印刷图案(PT1)以及第二印刷图案(PT2)，由此表示缺陷(D)的位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105247351A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201480030723.4
申请日：2014-06-09
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892 , G02B5/30 , G02F1/13
Abstract: 本发明的缺陷检查系统具备：输送线，其输送长条带状的薄膜；缺陷检查装置，其进行被输送线输送的薄膜的缺陷检查；以及记录装置(13)，其将基于缺陷检查的结果的缺陷信息记录于被输送线输送的薄膜(F105)，记录装置(13)具有：打印头(13a)，其通过向沿着薄膜(F105)的端缘部的记录区域(S)喷出墨(i)来打印缺陷信息；以及罩(30)，其防止墨(i)附着于薄膜(F105)的至少比记录区域(S)靠内侧的区域。
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公开(公告)号：CN102395919B
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201180001140.5
申请日：2011-03-09
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G02F1/13 , G02B5/30 , G02F1/1335
CPC classification number: G02B5/30 , G02F1/1309 , G02F1/133528
Abstract: 本发明提供一种偏振片的贴合精度检查方法以及偏振片的贴合精度检查装置，切断长尺寸的偏振片坯料的同时关于贴合在液晶面板的偏振片，可以在检查偏振片的贴合偏移量的同时，检查偏振片的尺寸以及垂直度。本发明涉及的偏振片的贴合精度检查方法包含观察贴合在液晶面板(2)的偏振片(3)的所有的四个角的观察工序和使用在上述观察工序中得到的观察数据，算出偏振片(3)的贴合偏移量、尺寸以及垂直度的运算工序。
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公开(公告)号：CN102870148A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201180013820.9
申请日：2011-03-08
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G09F9/00 , G02B5/30 , G02F1/1335
CPC classification number: B32B37/223 , B32B2457/202 , B65H18/145 , B65H19/1852 , B65H19/1878 , B65H2301/51122 , B65H2301/5161 , B65H2404/14 , B65H2801/61
Abstract: 本发明提供一种能更高效地贴合光学膜的光学膜贴合装置及贴合方法。光学膜贴合装置是用卷绕成滚筒状的带状光学膜卷筒（1），将光学膜连续地贴合到基板上的。带状光学膜卷筒（1）具有与基板（10）对应的宽度的大致2倍的宽度，光学膜贴合装置具备：在带状光学膜卷筒（1）的长度方向上放卷带状光学膜卷筒（1）的传送辊（6）；将被放卷的带状光学膜卷筒（1）沿其长度方向切断成具有与基板（10）对应的宽度的第1带状光学膜（4）和第2带状光学膜（5）的切断机构（8）；将第1带状光学膜（4）贴合到基板（10）上的贴合辊（11）；及卷绕第2带状光学膜（5）的传送辊（7）。
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公开(公告)号：CN102753960A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201180008488.7
申请日：2011-02-02
Applicant: 住友化学株式会社
CPC classification number: G01N21/95 , G01N2021/9513 , G02F1/1309
Abstract: 本发明提供一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，该方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，光的照射通过照射近红外线来进行所述光照射。能够对用现有照射可见光的检测方法无法检测出的缺陷进行检测。
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公开(公告)号：CN115108403A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210210151.4
申请日：2022-03-03
Applicant: 住友化学株式会社
Abstract: 本发明涉及卷芯、原材卷筒以及原材卷筒的制造方法。本发明提供能够减少由缓冲材料间的接缝引起的膜的凹陷以及由膜的长度方向端面的高低差引起的膜的高低差痕的卷芯等。卷芯(100)具备圆筒体(10)、覆盖圆筒体(10)的外周面的缓冲层(40)、和配置于圆筒体(10)的外周面与缓冲层(40)之间的粘合构件(30)。缓冲层(40)的25％压缩应力为80～120kPa，缓冲层(40)为含有50质量％以上的乙烯乙酸乙烯酯共聚物的发泡树脂层。
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