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公开(公告)号：CN100405323C
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200510086445.7
申请日：2005-09-20
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的方法，包括读取并解析指令模版；从指令库中选取指令；产生合法指令及相关的附加信号；对指令进行分类处理；将指令分别送入指令级模拟器以及仿真环境；在所述的指令级模拟器中执行送入的指令，得到所述指令的在指令级模拟器中的仿真结果；在所述的仿真环境中执行送入的指令，得到执行结果，对待验证处理器设置断点；将指令级模拟器的执行结果送入仿真环境，用于与仿真环境得到的指令执行结果进行比较；判断是否发生了调试断点例外，若发生则进行调试处理，并发出相应的警告，否则比较运行结果。
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公开(公告)号：CN101441600B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200810241076.8
申请日：2008-12-25
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种微处理器验证中快速换页的装置和方法。该装置包括：随机指令控制模块，用于读入验证微处理器的指令和数据，以及指令和数据的虚页号；为每个虚页号分配物理页号，生成页表；根据页表将指令和数据写入到内存模块中；接收微处理器输出的缺页例外信号；将虚页号、物理页号以及缺页例外信号组合成符合TLB格式的数据，随机写入被验证的微处理器；被验证的微处理器，用于从内存模块中取指令和数据执行，并将缺页例外信号输入到随机指令控制模块；内存模块，用于存储验证微处理器的指令和数据。本发明减少了验证中重复执行的无效指令，提高了效率。
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公开(公告)号：CN101510234A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200910080077.3
申请日：2009-03-18
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种用于指令级随机验证的指令组合过滤方法及系统。该方法包括：步骤1，在指令模板中添加待过滤的指令组合相关的约束，该约束包括指令组合的类型定义；步骤2，设置指令过滤器为先进先出的队列模式；步骤3，如果进入指令过滤器的指令队列中的指令组合与所述约束匹配，则删除最先进入指令过滤器的指令队列的指令，否则输出最先进入指令过滤器的指令队列的指令。可以有效解决大规模集成电路指令级随机验证中灵活的指令组合过滤问题，满足复杂集成电路验证中简化设计错误的调试过程和避免测试向量重复覆盖待验证设计功能点等需要，进而更好地支持复杂集成电路的验证。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101510234B
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200910080077.3
申请日：2009-03-18
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种用于指令级随机验证的指令组合过滤方法及系统。该方法包括：步骤1，在指令模板中添加待过滤的指令组合相关的约束，该约束包括指令组合的类型定义；步骤2，设置指令过滤器为先进先出的队列模式；步骤3，如果进入指令过滤器的指令队列中的指令组合与所述约束匹配，则删除最先进入指令过滤器的指令队列的指令，否则输出最先进入指令过滤器的指令队列的指令。可以有效解决大规模集成电路指令级随机验证中灵活的指令组合过滤问题，满足复杂集成电路验证中简化设计错误的调试过程和避免测试向量重复覆盖待验证设计功能点等需要，进而更好地支持复杂集成电路的验证。
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公开(公告)号：CN101487876A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200910078243.6
申请日：2009-02-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/3183
Abstract: 本发明公开了验证向量的优化方法及装置。该方法，包括下列步骤：根据仿真后的初始验证向量，获得所述初始验证向量对所定义的功能点的覆盖率的信息，初始化已覆盖功能点列表，构建分类模型；将新生成的验证向量送入所述分类模型，预测新生成的验证向量对所述功能点的覆盖率，并将使得对所述功能点的覆盖率提高的新生成的验证向量进行仿真，根据仿真结果更新功能点列表，得到覆盖率较高的验证向量。其能够在达到相同覆盖率的情况下，减少了需要进行仿真的验证向量的数目尽可能减少验证向量的使用，缩短仿真时间，从而提高验证效率，加速验证收敛。
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公开(公告)号：CN101487876B
公开(公告)日：2011-08-03
申请号：CN200910078243.6
申请日：2009-02-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/36 , G01R31/3183
Abstract: 本发明公开了验证向量的优化方法及装置。该方法，包括下列步骤：根据仿真后的初始验证向量，获得所述初始验证向量对所定义的功能点的覆盖率的信息，初始化已覆盖功能点列表，构建分类模型；将新生成的验证向量送入所述分类模型，预测新生成的验证向量对所述功能点的覆盖率，并将使得对所述功能点的覆盖率提高的新生成的验证向量进行仿真，根据仿真结果更新功能点列表，得到覆盖率较高的验证向量。其能够在达到相同覆盖率的情况下，减少了需要进行仿真的验证向量的数目尽可能减少验证向量的使用，缩短仿真时间，从而提高验证效率，加速验证收敛。
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公开(公告)号：CN101441600A
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200810241076.8
申请日：2008-12-25
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种微处理器验证中快速换页的装置和方法。该装置包括：随机指令控制模块，用于读入验证微处理器的指令和数据，以及指令和数据的虚页号；为每个虚页号分配物理页号，生成页表；根据页表将指令和数据写入到内存模块中；接收微处理器输出的缺页例外信号；将虚页号、物理页号以及缺页例外信号组合成符合TLB格式的数据，随机写入被验证的微处理器；被验证的微处理器，用于从内存模块中取指令和数据执行，并将缺页例外信号输入到随机指令控制模块；内存模块，用于存储验证微处理器的指令和数据。本发明减少了验证中重复执行的无效指令，提高了效率。
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公开(公告)号：CN1936860A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200510086445.7
申请日：2005-09-20
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种在指令级随机测试中支持EJTAG测试的方法，包括步骤：a)在指令库中添加EJTAG调试指令SDBBP/DRET；b)在指令模版中添加调试指令相关的约束；c)对指令级随机测试产生引擎进行改进；d)在指令级模拟器中加入调试指令SDBBP/DRET的执行机制，同时添加调试控制寄存器；e)在仿真环境中加入信号输入、输出和比较逻辑；f)在仿真环境提供的存储器中预存EJTAG调试例外处理程序。本发明对传统的指令级随机测试技术进行有效改造，在保持传统指令级随机测试优势的同时，有效支持包含EJTAG片上交叉调试器的微处理器核的测试和验证。
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