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公开(公告)号：CN108494400B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201810146750.8
申请日：2018-02-12
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03L7/26 , G06F30/367
Abstract: 本发明涉及一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其包括：步骤S1，通过电路仿真或示波器测试，获得锁相环在被辐照前的输出波形；步骤S2，对所述锁相环进行单粒子效应仿真或实验，捕获所述锁相环在被辐照后的输出波形；步骤S3，计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移和所述锁相环在被辐照后的相位偏移；步骤S4，累加获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移和所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移；步骤S5，计算获得累积相位抖动；步骤S6，将所述累积相位抖动等效为一个阶跃响应，利用所述阶跃响应的稳定值量化评估锁相环电路的单粒子敏感性。本发明通过提出累计相位抖动的指标，实现了锁相环电路单粒子敏感性的全面量化评估。
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公开(公告)号：CN108462471A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201810146296.6
申请日：2018-02-12
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03B5/32
Abstract: 本发明涉及一种基于SOI工艺的压控振荡器电路，其包括：依次连接的偏置单元、四级差分延迟模块以及输出缓冲单元，其中，所述偏置单元接收一外围输入的电压信号，并向所述四级差分延迟模块提供一偏置电压；所述四级差分延迟模块四个依次连接的延迟单元，且每个所述延迟单元具有正、负输入端和正、负输出端，其中，第一个所述延迟单元的正、负输入端分别与第四个所述延迟单元的负、正输出端连接；所述输出缓冲单元的正、负输入端分别与第四个所述延迟单元的正、负输出端连接，其正、负输出端分别产生差分输出信号。本发明具有结构简单、面积小、相位噪声低、抗辐射性能强等优点。
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公开(公告)号：CN108471309A
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201810145945.0
申请日：2018-02-12
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于锁相环的锁定检测电路，所述锁相环包括输入分频器以及反馈分频器，所述锁定检测电路包括：两个输入缓冲器、三个数字锁定检测模块以及一多数表决器，其中，一个所述输入缓冲器接收由所述输入分频器提供的参考信号，并同时向三个所述数字锁定检测模块提供参考缓冲信号；另一个所述输入缓冲器接收由所述反馈分频器提供的反馈信号，并同时向三个所述数字锁定检测模块提供反馈缓冲信号；每个所述数字锁定检测模块将所述参考缓冲信号与反馈缓冲信号进行比较；所述多数表决器根据三个所述数字锁定检测模块的输出信号产生锁定检测信号。本发明具有灵活性强、抗单粒子效应等优点。
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公开(公告)号：CN108494400A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810146750.8
申请日：2018-02-12
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其包括：步骤S1，通过电路仿真或示波器测试，获得锁相环在被辐照前的输出波形；步骤S2，对所述锁相环进行单粒子效应仿真或实验，捕获所述锁相环在被辐照后的输出波形；步骤S3，计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移和所述锁相环在被辐照后的相位偏移；步骤S4，累加获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移和所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移；步骤S5，计算获得累积相位抖动；步骤S6，将所述累积相位抖动等效为一个阶跃响应，利用所述阶跃响应的稳定值量化评估锁相环电路的单粒子敏感性。本发明通过提出累计相位抖动的指标，实现了锁相环电路单粒子敏感性的全面量化评估。
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