公开(公告)号：CN115951108A

公开(公告)日：2023-04-11

申请号：CN202211516548.2

申请日：2022-11-30

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 周健 ,  王娟 ,  王永良 ,  彭炜

IPC: G01R19/00

Abstract: 本发明涉及一种无并联电阻低温超导约瑟夫森结电流测量系统和方法，其中，系统包括测试杆，所述测试杆一端设置有电压端和电流端，另一端通过线缆与切换器相连；所述电压端和所述电流端均与样品相连；所述切换器通过同轴电缆与滤波器的输入端相连，所述滤波器的输出端分别与电流表和电压表相连，所述电流表和电压表通过数据线与计算机相连。本发明可以解决现有无并联电阻低温超导JJ电流Ic精度不够，不确定度过大的问题。

公开(公告)号：CN117388044A

公开(公告)日：2024-01-12

申请号：CN202311206205.0

申请日：2023-09-19

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 周健 ,  王娟 ,  王永良 ,  彭炜

IPC: G01N1/42 ,  G01R19/00 ,  G01N27/00

Abstract: 本发明涉及一种无磁屏蔽环境下低温超导约瑟夫森结电流测试方法，包括以下步骤：将待测样品放置于样品架上，并将样品架置于所述测试杆底部；将测试杆插入灌满液氦的杜瓦中，测量所述待测样品温度；当所述待测样品的温度低于预设温度时开始测量所述待测样品的Icij，测量m次，根据测量的m次结果求取平均值Ici‑av和不确定度Ui，并对所述待测样品进行加热去磁通操作；判断当前测试的轮次是否到达设置轮数n，当未到达时进行下一轮测试，当到达时根据得到的多对平均值Ici‑av和不确定度Ui构建关系模型；基于关系模型求取Ui＝0时的平均值Ici‑av，将得到平均值Ici‑av作为无屏蔽环境下的临界电流Ic的经验值。本发明解决现有无并联电阻低温超导约瑟夫森结临界电流测量成本高，精度偏低的问题。