一种基于图像处理的晶体塑性有限元建模方法

    公开(公告)号:CN119479949B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202510047752.1

    申请日:2025-01-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像处理的晶体塑性有限元建模方法,涉及晶体建模技术领域,包括以下步骤:S1、获取晶体的高分辨率图像,并剔除高分辨率图像的背景区域,得到晶体形态图像;S2、基于晶体形态图像的晶粒,将晶体形态图像划分为若干个网格;S3、基于晶体形态图像的若干个网格,为晶体构建约束系数;S4、利用约束系数,对晶体进行建模。本发明通过在有限元分析软件中运行模拟,对晶体材料的塑性变形行为进行预测和分析,有利于深入了解晶体的塑性变形机制。

    一种激光熔覆方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN119295492B

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202411814169.0

    申请日:2024-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种激光熔覆方法,属于激光熔覆工艺优化技术领域,本发明通过采集熔覆图像并进行HSV色彩空间分析,结合多通道工艺预测模型,实现了工艺参数的智能化调控和自动优化,避免了传统方法中依赖人工经验和反复试验的缺陷。该方法同时考虑熔池质量和熔覆层质量两个维度,并通过质量差距系数的引入,实现了工艺参数的精确优化。本发明通过图像处理,将熔覆过程的质量进行量化,从而提高工艺参数的控制精度。

    一种基于图像处理的晶体塑性有限元建模方法

    公开(公告)号:CN119479949A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202510047752.1

    申请日:2025-01-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像处理的晶体塑性有限元建模方法,涉及晶体建模技术领域,包括以下步骤:S1、获取晶体的高分辨率图像,并剔除高分辨率图像的背景区域,得到晶体形态图像;S2、基于晶体形态图像的晶粒,将晶体形态图像划分为若干个网格;S3、基于晶体形态图像的若干个网格,为晶体构建约束系数;S4、利用约束系数,对晶体进行建模。本发明通过在有限元分析软件中运行模拟,对晶体材料的塑性变形行为进行预测和分析,有利于深入了解晶体的塑性变形机制。

    一种激光熔覆方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119295492A

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411814169.0

    申请日:2024-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种激光熔覆方法,属于激光熔覆工艺优化技术领域,本发明通过采集熔覆图像并进行HSV色彩空间分析,结合多通道工艺预测模型,实现了工艺参数的智能化调控和自动优化,避免了传统方法中依赖人工经验和反复试验的缺陷。该方法同时考虑熔池质量和熔覆层质量两个维度,并通过质量差距系数的引入,实现了工艺参数的精确优化。本发明通过图像处理,将熔覆过程的质量进行量化,从而提高工艺参数的控制精度。

    一种基于微结构分析的材料寿命预测方法

    公开(公告)号:CN119147563A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411639664.2

    申请日:2024-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于微结构分析的材料寿命预测方法,涉及材料物理性质测定和分析领域,包括:通过X射线照射待测材料,采集得到三维X射线衍射图谱;对三维X射线衍射图谱进行空间转换,得到三维微观结构图;通过多尺度神经网络分析三维微观结构图的纹理,得到晶粒平均尺寸估计量;通过微结构优化的应力疲劳寿命拟合函数,计算得到待测材料的寿命。本发明从微观结构出发,通过X射线衍射图的空间转换以及纹理识别,获取待测材料的微观晶粒平均尺寸,以此作为重要的微观参数,结合应力疲劳损伤的宏观参数,进行相比于传统技术更为准确的材料寿命预测。

    一种基于微结构分析的材料寿命预测方法

    公开(公告)号:CN119147563B

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411639664.2

    申请日:2024-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于微结构分析的材料寿命预测方法,涉及材料物理性质测定和分析领域,包括:通过X射线照射待测材料,采集得到三维X射线衍射图谱;对三维X射线衍射图谱进行空间转换,得到三维微观结构图;通过多尺度神经网络分析三维微观结构图的纹理,得到晶粒平均尺寸估计量;通过微结构优化的应力疲劳寿命拟合函数,计算得到待测材料的寿命。本发明从微观结构出发,通过X射线衍射图的空间转换以及纹理识别,获取待测材料的微观晶粒平均尺寸,以此作为重要的微观参数,结合应力疲劳损伤的宏观参数,进行相比于传统技术更为准确的材料寿命预测。

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