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公开(公告)号:CN117147979A
公开(公告)日:2023-12-01
申请号:CN202311058453.5
申请日:2023-08-21
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及电波暗室技术领域,提供了一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法,包括S1、采用全向天线测量电磁场静区接收电平,形成空间路径‑接收电平的对应数列;S2、采用等间隔的第一空间分辨率,得到稀疏抽样波形,快速傅里叶变换形成空间谱计算序列的原始序列,作补零操作形成补零后序列,进行反快速傅里叶变换得到稀疏抽样恢复波形;S3、基于步骤S2中得到的所述稀疏抽样恢复波形对电磁场静区参数进行计算。本发明采用“稀疏抽样恢复波形”,大大减少了采样点位,但可以达到很高的波形保真度,可以检出“原始波形”对应的峰值,且得到的锥削和纹波曲线细节更丰富,提升了测试效率,节约测试时间。