公开(公告)号：CN102279014B

公开(公告)日：2012-08-22

申请号：CN201110179083.1

申请日：2011-06-29

Applicant: 中北大学

Inventor： 马喜宏 ,  刘俊 ,  张文栋 ,  任勇峰 ,  石云波 ,  秦丽 ,  孙韬 ,  张庆志

IPC: G01D11/24

Abstract: 本发明涉及测试设备抗冲击防护结构的设计方法，具体是一种测试设备抗冲击防护壳体结构设计方法。本发明解决了现有测试设备抗冲击防护结构设计方法不利于统一测试设备的设计方法、以及导致测试设备设计周期加长和设计成本增加的问题。测试设备抗冲击防护壳体结构设计方法，该方法是采用如下步骤实现的：1）设计确定抗冲击壳体的外形结构；2）定量确定内层圆柱壳体屈曲速度、外层圆柱壳体屈服速度、电路板破坏极限；3）内层圆柱壳体顶盖厚度、外层圆柱壳体顶盖厚度、缓冲材料厚度、灌封材料厚度的确定；4）抗大冲击缓冲结构的设计；5）抗层裂结构的设计。本发明在面对不同的测试环境时，可以使得测试设备的设计方法趋于统一。

公开(公告)号：CN102279014A

公开(公告)日：2011-12-14

申请号：CN201110179083.1

申请日：2011-06-29

Applicant: 中北大学

Inventor： 马喜宏 ,  刘俊 ,  张文栋 ,  任勇峰 ,  石云波 ,  秦丽 ,  孙韬 ,  张庆志

IPC: G01D11/24

Abstract: 本发明涉及测试设备抗冲击防护结构的设计方法，具体是一种测试设备抗冲击防护壳体结构设计方法。本发明解决了现有测试设备抗冲击防护结构设计方法不利于统一测试设备的设计方法、以及导致测试设备设计周期加长和设计成本增加的问题。测试设备抗冲击防护壳体结构设计方法，该方法是采用如下步骤实现的：1）设计确定抗冲击壳体的外形结构；2）定量确定内层圆柱壳体屈曲速度、外层圆柱壳体屈服速度、电路板破坏极限；3）内层圆柱壳体顶盖厚度、外层圆柱壳体顶盖厚度、缓冲材料厚度、灌封材料厚度的确定；4）抗大冲击缓冲结构的设计；5）抗层裂结构的设计。本发明在面对不同的测试环境时，可以使得测试设备的设计方法趋于统一。