公开(公告)号：CN115494369A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202110673554.8

申请日：2021-06-17

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁 ,  于宏新 ,  张文荣

IPC: G01R31/28

Abstract: 本公开涉及一种芯片测试装置，所述装置包括控制模块、测试模块，控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制，以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试；测试模块，包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元，处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信，通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试，供电及复位单元用于当待测芯片出现死机情况时，执行多级复位管理，确定所述待测芯片出现死机的原因。本公开实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试，得到清晰、可靠的测试结果，人工干预少，成本低，效率高。

公开(公告)号：CN215599311U

公开(公告)日：2022-01-21

申请号：CN202121357360.9

申请日：2021-06-17

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Inventor： 吴骁 ,  于宏新 ,  张文荣

IPC: G01R31/28

Abstract: 本实用新型涉及一种芯片测试装置，所述装置包括控制模块、测试模块，控制模块根据控制信息实现对测试模块的控制，以使得测试模块对连接的至少一个待测芯片进行测试；测试模块，包括处理单元、测试单元、接口单元、供电及复位单元，处理单元用于与所述控制模块、测试单元及供电及复位单元通信，通过测试单元及接口单元将测试程序写入待测芯片并根据控制程序执行相应的测试，供电及复位单元通过开关单元选择第一单元、第二单元、第三单元、第四单元的任意一个或多个的输出电压对测试模块和/或待测芯片供电。本实用新型实施例可以对至少一个待测芯片进行快速、自动、准确测试，得到清晰、可靠的测试结果，人工干预少，成本低，效率高。

公开(公告)号：CN308559712S

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202330685058.4

申请日：2023-10-23

Applicant: 上海晟矽微电子股份有限公司

Designer： 吴东方 ,  于宏新

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：烧录器。
2.本外观设计产品的用途：用于芯片的烧录、编程等。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。