公开(公告)号：CN119535169A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411713275.X

申请日：2024-11-27

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 任鹏鹏 ,  张烨薇 ,  纪志罡

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种可寻址环形振荡器测试电路，该电路包括寻址电路、开关电路、激励电路、测试RO单元组和分频电路。其中，测试RO单元组包括多个测试RO单元，寻址电路包括列寻址电路和行寻址电路，列寻址电路、行寻址电路分别通过开关电路接入所述测试RO单元组，通过地址选通其中的测试RO单元，每个测试RO单元的输出端连接所述分频电路中的对应的一个分频器。该测试电路还包括感知电路接入所述测试RO单元组。所述测试RO单元由一个与非门、若干反相器和驱动器，依照与非门、若干反相器首尾连接，并输入到驱动器组成。

公开(公告)号：CN119596110A

公开(公告)日：2025-03-11

申请号：CN202411777015.9

申请日：2024-12-05

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 任鹏鹏 ,  张烨薇 ,  纪志罡

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3185 ,  G01R1/30

Abstract: 本发明公开了一种大规模可寻址关键路径测试电路，其包括：激励电路，用于生成输入信号VIN和电源VDD；行寻址电路、列寻址电路，分别用于接收行地址以及列地址，并根据接收到的地址信号控制开关电路，从多个待测路径中选中需要测试的待测路径，将输入信号VIN作用至该待测路径的输入端，并将电源VDD作用至需要测试的待测路径，为该待测路径供电；每个待测路径连接有一个TDC模块，用于检测输入信号VIN在对应待测路径中传播所需的延迟时间；感知电路，与各待测路径连接，用于分别检测各待测路径的实际供电电压VDDSENSE。本发明中使用感知电路感知待测单元的VDD压降情况，能够精确检测到电路的实际工作电压。