功率模块的劣化探测装置

    公开(公告)号:CN104380126A

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201380031019.6

    申请日:2013-05-23

    CPC classification number: G01R31/26 G01R31/048 G01R31/42 H02M7/48

    Abstract: 一种探测内置有半导体芯片(100)的功率模块的劣化的装置,具备劣化探测处理部(10),该劣化探测处理部根据检测半导体芯片(100)的温度而得到的温度信号(S1)中包含的交流信号与检测半导体芯片(100)的电力损耗而得到的电力损耗信号(S3)中包含的交流分量之间的传递特性,进行劣化探测处理,排除其他发热源的温度干扰的影响而可靠地探测功率模块的劣化度。

    功率模块
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105191109B

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201480012898.2

    申请日:2014-01-31

    Abstract: 功率模块(1)具备包括N个开关元件对(31、32、33)的电力变换部(30)和控制电路(10)。控制电路(10)接受与N个开关元件对(31、32、33)分别对应的N个指令信号(Uin、Vin、Win)以及共同的使能信号(EN)。控制电路(10)在使能信号(EN)取反时,进行使构成电力变换部(30)的全部的开关元件断开的全断开控制,在使能信号(EN)断言时,针对各开关元件对,针对对应的指令信号的每1周期进行通常控制、死区时间附加控制、以及死区时间补偿控制。

    功率模块
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105191109A

    公开(公告)日:2015-12-23

    申请号:CN201480012898.2

    申请日:2014-01-31

    Abstract: 功率模块(1)具备包括N个开关元件对(31、32、33)的电力变换部(30)和控制电路(10)。控制电路(10)接受与N个开关元件对(31、32、33)分别对应的N个指令信号(Uin、Vin、Win)以及共同的使能信号(EN)。控制电路(10)在使能信号(EN)取反时,进行使构成电力变换部(30)的全部的开关元件断开的全断开控制,在使能信号(EN)断言时,针对各开关元件对,针对对应的指令信号的每1周期进行通常控制、死区时间附加控制、以及死区时间补偿控制。

    功率模块的劣化探测装置

    公开(公告)号:CN104380126B

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201380031019.6

    申请日:2013-05-23

    CPC classification number: G01R31/26 G01R31/048 G01R31/42 H02M7/48

    Abstract: 一种探测内置有半导体芯片(100)的功率模块的劣化的装置,具备劣化探测处理部(10),该劣化探测处理部根据检测半导体芯片(100)的温度而得到的温度信号(S1)中包含的交流信号与检测半导体芯片(100)的电力损耗而得到的电力损耗信号(S3)中包含的交流分量之间的传递特性,进行劣化探测处理,排除其他发热源的温度干扰的影响而可靠地探测功率模块的劣化度。

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