公开(公告)号：CN101794625B

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201010110966.2

申请日：2010-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵秀行 ,  宋基在 ,  徐成东 ,  河镜虎 ,  金圣九 ,  金永今 ,  赵寅成

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C29/56012 ,  G11C2029/5602 ,  Y10T29/49004

Abstract: 本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电-光信号转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。

公开(公告)号：CN101794625A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN201010110966.2

申请日：2010-02-02

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 赵秀行 ,  宋基在 ,  徐成东 ,  河镜虎 ,  金圣九 ,  金永今 ,  赵寅成

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56 ,  G11C29/56012 ,  G11C2029/5602 ,  Y10T29/49004

Abstract: 本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电-光信号转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。