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公开(公告)号：CN116110482A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211405909.6
申请日：2022-11-10
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/12
Abstract: 一种用于将存储器单元编程为多个编程状态的存储器装置的操作方法包括：向选择的存储器单元提供一系列编程脉冲；执行验证多个编程状态中的目标编程状态的第一验证操作；当第一验证操作通过时，执行检测选择的存储器单元中的故障单元的第二验证操作，以确定这些存储器单元是否已经被过编程。当检测到的故障单元的数量大于或等于参考值时，可终止针对该位置的编程操作，并且可将数据写入到另一位置。
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