半导体器件和包括半导体器件的数据存储系统

    公开(公告)号:CN114678377A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202111580785.0

    申请日:2021-12-22

    Abstract: 一种半导体器件包括:堆叠结构,该堆叠结构包括交替堆叠在下结构上的层间绝缘层和栅极层;以及穿透堆叠结构的存储器竖直结构、分离结构和支撑竖直结构,其中栅极层包括下栅极层、上栅极层和中间栅极层,其中分离结构包括第一分离结构,其中支撑竖直结构包括穿透下栅极层、中间栅极层和上栅极层且与第一分离结构相邻的第一内支撑竖直结构,其中第一内支撑竖直结构的一部分在与上栅极层相同的水平上直接连接到第一分离结构,以及其中第一内支撑竖直结构的一部分在与下栅极层相同的水平上与第一分离结构间隔开。

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