公开(公告)号：CN104049744A

公开(公告)日：2014-09-17

申请号：CN201410097722.3

申请日：2014-03-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李宇镛 ,  李恩周 ,  崔珉硕 ,  河承泰 ,  崔镇宇

IPC: G06F3/01 ,  G06F3/0487 ,  G06F3/0488

CPC classification number: H04M1/575 ,  H04B1/3888 ,  H04M1/0245 ,  H04M1/0266 ,  H04M1/72569 ,  H04M2250/12

Abstract: 提供一种用于操作具有盖子的电子装置的方法和设备。一种方法包括：检测盖子是否覆盖显示器的至少一部分；接收呼叫信号；响应于电话呼叫接收信号的接收，在显示器的所述至少一部分上显示与呼叫信号的接收相关的信息；检测与显示器的表面相邻的外部物体；响应于外部物体的相邻的检测，连接呼叫。一种电子装置包括：控制器，被配置用于在检测到盖子覆盖显示器时响应于接收到呼叫来使得显示器通过窗口显示接收到呼叫，并且响应于检测到与显示器的表面相邻的外部物体来控制呼叫被连接。

公开(公告)号：CN119470263A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202410927519.8

申请日：2024-07-11

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 姜周延 ,  金起德 ,  金洸秀 ,  金郁来 ,  孙在锡 ,  李恩周 ,  黄淳弘

IPC: G01N21/01 ,  G01N21/17 ,  G01N21/3563 ,  H01L21/67

Abstract: 一种光学测量设备包括：第一光发射器，被配置为将第一光发射到样品的表面上；第二光发射器，被配置为将第二光发射到其上入射有第一光的样品的表面上；物理性质检测器，被配置为：通过检测由于样品的表面上的第一光的光热效应引起的第二光的光量的改变，获得样品的物理性质信息；以及至少一个结构检测器，被配置为：通过检测从样品的表面反射的第一光和第二光中的至少一个的反射光，获得样品的结构信息。

公开(公告)号：CN104049744B

公开(公告)日：2019-06-21

申请号：CN201410097722.3

申请日：2014-03-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李宇镛 ,  李恩周 ,  崔珉硕 ,  河承泰 ,  崔镇宇

IPC: G06F3/01 ,  G06F3/0487 ,  G06F3/0488

CPC classification number: H04M1/575 ,  H04B1/3888 ,  H04M1/0245 ,  H04M1/0266 ,  H04M1/72569 ,  H04M2250/12

Abstract: 提供一种用于操作具有盖子的电子装置的方法和设备。一种方法包括：检测盖子是否覆盖显示器的至少一部分；接收呼叫信号；响应于电话呼叫接收信号的接收，在显示器的所述至少一部分上显示与呼叫信号的接收相关的信息；检测与显示器的表面相邻的外部物体；响应于外部物体的相邻的检测，连接呼叫。一种电子装置包括：控制器，被配置用于在检测到盖子覆盖显示器时响应于接收到呼叫来使得显示器通过窗口显示接收到呼叫，并且响应于检测到与显示器的表面相邻的外部物体来控制呼叫被连接。