对准标记的高度得以保持的半导体器件

    公开(公告)号:CN110729278B

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN201910588532.4

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 一种半导体器件可以包括:在包括第一区域和第二区域在内的衬底的第一区域上的栅电极结构;覆盖栅电极结构的上表面的封盖结构,封盖结构包括封盖图案以及覆盖封盖图案的下表面和侧壁的第一蚀刻停止图案;在衬底的第二区域上的对准标记,对准标记包括绝缘材料;以及在衬底的第二区域上的填充结构,填充结构覆盖对准标记的侧壁,并且包括第一填充图案、覆盖第一填充图案的下表面和侧壁的第二填充图案以及覆盖第二填充图案的下表面和侧壁的第二蚀刻停止图案。

    对准标记的高度得以保持的半导体器件

    公开(公告)号:CN110729278A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201910588532.4

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 一种半导体器件可以包括:在包括第一区域和第二区域在内的衬底的第一区域上的栅电极结构;覆盖栅电极结构的上表面的封盖结构,封盖结构包括封盖图案以及覆盖封盖图案的下表面和侧壁的第一蚀刻停止图案;在衬底的第二区域上的对准标记,对准标记包括绝缘材料;以及在衬底的第二区域上的填充结构,填充结构覆盖对准标记的侧壁,并且包括第一填充图案、覆盖第一填充图案的下表面和侧壁的第二填充图案以及覆盖第二填充图案的下表面和侧壁的第二蚀刻停止图案。

Patent Agency Ranking