半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110660724B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN201910553164.X

    申请日:2019-06-25

    Abstract: 公开了一种半导体器件,其包括:衬底;从衬底突出的多个有源图案;在有源图案之间的器件隔离层;以及钝化层,覆盖器件隔离层的顶表面并暴露有源图案的上部。器件隔离层包括与有源图案的相面对的侧壁相邻的多个第一隔离部、以及在第一隔离部之间的第二隔离部。第二隔离部的顶表面位于比第一隔离部的顶表面的水平低的水平处。

    半导体器件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110660724A

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201910553164.X

    申请日:2019-06-25

    Abstract: 公开了一种半导体器件,其包括:衬底;从衬底突出的多个有源图案;在有源图案之间的器件隔离层;以及钝化层,覆盖器件隔离层的顶表面并暴露有源图案的上部。器件隔离层包括与有源图案的相面对的侧壁相邻的多个第一隔离部、以及在第一隔离部之间的第二隔离部。第二隔离部的顶表面位于比第一隔离部的顶表面的水平低的水平处。

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