半导体器件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1820374A

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200580000611.5

    申请日:2005-02-25

    CPC classification number: H01L29/7816 H01L29/0696 H01L29/1087 H01L29/1095

    Abstract: 一种半导体器件,包括:P-型半导体衬底(15);在P-型半导体衬底(15)上形成的N型半导体区(21);在N型半导体区(21)的表面区域形成、且与接地电极(1)电连接的上侧P型半导体区(13);在上侧P型半导体区(13)之下形成的下侧P型半导体区(14);与漏电极(2)电连接的第1 N+型半导体区(22);起沟道形成区作用的P型半导体区(19);与背栅电极(5)电连接的P+型半导体区(12);与源电极(4)电连接的第2 N+型半导体区(23);以及P型半导体区(19)上的栅电极(3)和栅绝缘膜(31);下侧P型半导体区(14)延伸到第1 N+型半导体区(22)侧。

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