- 专利标题： Semiconductor device for performing test and repair operations
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申请号： US14253971申请日： 2014-04-16
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公开(公告)号： US09690723B2公开(公告)日： 2017-06-27
- 发明人: Hyung-Gyun Yang , Hyung-Dong Lee , Yong-Kee Kwon , Young-Suk Moon , Hong-Sik Kim
- 申请人： SK hynix Inc.
- 申请人地址： KR Icheon-si
- 专利权人： SK hynix Inc.
- 当前专利权人： SK hynix Inc.
- 当前专利权人地址： KR Icheon-si
- 代理机构： William Park & Associates Ltd.
- 优先权： KR10-2013-0043884 20130422
- 主分类号： G06F13/16
- IPC分类号： G06F13/16 ; G06F13/30
摘要：
A semiconductor device may include: a storage unit configured to store program codes provided through control of a processor core; and a control unit configured to perform a control operation on a semiconductor memory device according to the program codes.
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