- 专利标题： Circuit for testing integrated circuits
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申请号： US14980994申请日： 2015-12-28
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公开(公告)号： US09689924B2公开(公告)日： 2017-06-27
- 发明人: Anirudha Kulkarni , Jasvir Singh
- 申请人： STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.
- 申请人地址： NL
- 专利权人： STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.
- 当前专利权人： STMICROELECTRONICS INTERNATIONAL N.V.
- 当前专利权人地址： NL
- 代理机构： Slater Matsil LLP
- 优先权： IN1682/DEL/2010 20100719
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185 ; G01R31/3187 ; G11C29/26 ; G01R31/319 ; G11C29/12 ; G11C29/32 ; G01R31/3177 ; G01R31/317
摘要：
An integrated circuit is configured to receive a test clock input and includes circuitry configured to generate test clocks from the test clock input, and test circuitry configured to use the test clocks in a test mode.
公开/授权文献
- US20160131705A1 CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS 公开/授权日：2016-05-12
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IPC分类:
