- 专利标题： Semiconductor devices and methods relating to the repairing of the same
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申请号： US15477228申请日： 2017-04-03
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公开(公告)号： US10013305B2公开(公告)日： 2018-07-03
- 发明人: Soo Bin Lim , Young Hyun Baek
- 申请人： SK hynix Inc.
- 申请人地址： KR Icheon-si, Gyeonggi-do
- 专利权人： SK hynix Inc.
- 当前专利权人： SK hynix Inc.
- 当前专利权人地址： KR Icheon-si, Gyeonggi-do
- 代理机构： William Park & Associates Ltd.
- 优先权： KR10-2016-0140099 20161026
- 主分类号： G11C29/00
- IPC分类号： G11C29/00 ; G06F11/07 ; G11C29/36 ; G11C29/38 ; G11C29/44
摘要：
A semiconductor device and or method of repairing the semiconductor device may be provided. The semiconductor device may include an error information storage circuit. The error information storage circuit may be configured to latch an address to generate a latched fail address and a rupture control signal.
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