一种化合物半导体开关电路装置，在开关MMIC中，为提高静电击穿电压，有将控制电阻靠近共通输入端子焊盘配置，并利用焊盘的周边杂质区域连接保护元件的情况。但是，当输入到共通输入端子焊盘上的高频模拟信号泄漏到控制电阻上，而到达控制端子焊盘上时，存在插入损耗增大的问题。在控制端子焊盘的附近，从控制端子焊盘到保护元件之间的控制电阻上连接高电阻体。由此，即使高频模拟信号泄漏到控制电阻上，也可以通过高电阻体将其衰减。因此，实质上高频模拟信号不会传递到控制端子焊盘上，可抑制插入损耗的增大。