发明授权
CN1761866B 用于测试光盘耐用性的装置和方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 用于测试光盘耐用性的装置和方法
- 专利标题(英): Apparatus and method for testing endurance of optical disc
-
申请号: CN200480007427.9申请日: 2004-03-17
-
公开(公告)号: CN1761866B公开(公告)日: 2011-07-20
- 发明人: 金真弘 , 徐勋 , 李昌镐 , 郑台熙 , 郭锦哲 , 李承远
- 申请人: LG电子株式会社
- 申请人地址: 韩国首尔
- 专利权人: LG电子株式会社
- 当前专利权人: LG电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国首尔
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 夏凯; 谢丽娜
- 优先权: 10-2003-0016514 2003.03.17 KR
- 国际申请: PCT/KR2004/000581 2004.03.17
- 国际公布: WO2004/083825 EN 2004.09.30
- 进入国家日期: 2005-09-19
- 主分类号: G01N3/46
- IPC分类号: G01N3/46
摘要:
公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法,由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上,并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20),提供预定的压力给划痕(31),同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数,以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕,和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
公开/授权文献
- CN1761866A 用于测试光盘耐用性的装置和方法 公开/授权日:2006-04-19