Invention Publication
- Patent Title: 一种用于即时检测汞离子的比率型荧光探针及其制备方法和应用
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Application No.: CN202411452389.3Application Date: 2024-10-17
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Publication No.: CN119528891APublication Date: 2025-02-28
- Inventor: 张欢 , 张有来 , 吴淏雨
- Applicant: 天津理工大学
- Applicant Address: 天津市西青区宾水西道391号
- Assignee: 天津理工大学
- Current Assignee: 天津理工大学
- Current Assignee Address: 天津市西青区宾水西道391号
- Agency: 天津盛理知识产权代理有限公司
- Agent 王来佳
- Main IPC: C07D409/10
- IPC: C07D409/10 ; C09K11/06 ; G01N21/64 ; G01N21/78

Abstract:
本发明涉及一种用于即时检测汞离子的比率型荧光探针及其制备方法和应用,通过利用比率荧光探针检测汞离子溶液在516nm、794nm处的荧光强度比,即可根据荧光强度比与汞离子浓度的线性方程,获取待测汞离子的浓度;与常规检测方法相比,本发明利用比率荧光探针检测汞离子,具有检测灵敏度高、响应迅速(1min)、Stokes位移大(358nm)、可使用智能手机即时监测汞离子浓度等优点,并成功用于细胞等生物体内汞离子检测,使用价值高,应用前景好。
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