发明公开
- 专利标题: 一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法
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申请号: CN202410632762.7申请日: 2024-05-21
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公开(公告)号: CN118569166A公开(公告)日: 2024-08-30
- 发明人: 李懿琪 , 王坤 , 张哲 , 吕顺远 , 高凡 , 黄治华
- 申请人: 武汉凌久微电子有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区关东工业园百合路1号
- 专利权人: 武汉凌久微电子有限公司
- 当前专利权人: 武汉凌久微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武汉东湖新技术开发区关东工业园百合路1号
- 代理机构: 武汉泰山北斗专利代理事务所
- 代理商 董佳佳
- 主分类号: G06F30/3308
- IPC分类号: G06F30/3308 ; G06F11/263 ; G01R31/28 ; G06F115/02
摘要:
本发明提供一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法,包括一套运行于上位机的自动化测试框架、一套用于上位机和配试平台通信的通信协议和一套运行于配试平台的代码,能实现自动化进行下述流程:测试管理、测试用例生成、测试用例交叉编译、可执行文件下发至SOC芯片执行测试、下发指令至配试平台配合相关模块功能测试、回收测试日志、判断测试结果、生成测试日志,配合进行多个模块的功能测试,从而实现SOC芯片设计和验证过程中功能模块测试用例的自动化生成和批量执行,提高测试验证的覆盖率,减少需求的人工操作,提高测试效率;此外,硬件配试平台可使用商用开发板配合测试,具备灵活性和通用性,降低测试所需的成本。