三维(3D)存储装置及制造方法
摘要:
公开了一种用于制造3D存储装置的方法,包括:在衬底之上形成牺牲层,在牺牲层之上形成第一电介质堆叠体,形成沟道孔结构,形成暴露牺牲层的开口,去除牺牲层以产生空腔并暴露沟道孔结构的一部分,形成半导体层以填充空腔,用填充结构填充开口,并在填充结构之上形成第二电介质堆叠体。所述开口是为栅缝隙(GLS)结构制作的。
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