发明授权
- 专利标题: 一种芯片热压键合装置及方法
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申请号: CN202410077575.7申请日: 2024-01-19
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公开(公告)号: CN117594500B公开(公告)日: 2024-05-07
- 发明人: 马飞 , 邬庆波 , 曹庆 , 魏泽涛 , 高超华
- 申请人: 浙江集迈科微电子有限公司
- 申请人地址: 浙江省湖州市长兴县经济技术开发区陈王路与太湖路交叉口长兴国家大学科技园二分部北园8号厂房
- 专利权人: 浙江集迈科微电子有限公司
- 当前专利权人: 浙江集迈科微电子有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省湖州市长兴县经济技术开发区陈王路与太湖路交叉口长兴国家大学科技园二分部北园8号厂房
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 高燕
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/603
摘要:
本发明提供一种芯片热压键合装置及方法,所述芯片热压键合装置包括若干个子键合单元,每个所述子键合单元均包括键合吸嘴、吸嘴底座、子传感器、子活塞和子控制器;所述键合吸嘴经所述子活塞装配于所述吸嘴底座上;所述子传感器用于实时监测所述键合吸嘴的压力和/或温度,所述子控制器用于根据所述子传感器的数据和设定的温度和/或压力数据,调整所述子活塞的高度和/或所述键合吸嘴的温度。其为集成式键合装置,每个子键合单元都能独立控制高度、压力和温度,以此解决芯片键合过程中压力不均匀或区域键合效果差的问题,同时子键合单元之间形成有间隔,间隔大小可以调整,以匹配热压键合过程中芯片的横向涨缩带来的平面尺寸的变化问题。
公开/授权文献
- CN117594500A 一种芯片热压键合装置及方法 公开/授权日:2024-02-23
IPC分类: