Invention Publication
- Patent Title: 毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质
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Application No.: CN202311277016.2Application Date: 2023-09-28
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Publication No.: CN117389869APublication Date: 2024-01-12
- Inventor: 张慧 , 罗俊 , 刘文冬 , 周春元 , 高伟
- Applicant: 珠海微度芯创科技有限责任公司
- Applicant Address: 广东省珠海市高新区唐家湾镇大学路101号3栋603-3
- Assignee: 珠海微度芯创科技有限责任公司
- Current Assignee: 珠海微度芯创科技有限责任公司
- Current Assignee Address: 广东省珠海市高新区唐家湾镇大学路101号3栋603-3
- Agency: 广州嘉权专利商标事务所有限公司
- Agent 尹长斌
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36 ; G06F11/22 ; G06F11/263

Abstract:
本申请公开了毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质,方法包括:ADC数据采集模块采集的第一待测ADC数据通过SOC外设接口转成第二待测ADC数据并传至PC,PC保存并分析得到第一处理结果,并将第二待测ADC数据通过FPGA模块、ADC数据格式转换模块转换成第三待测ADC数据;ASIC算法处理模块分析第三待测ADC数据得到第二处理结果并传至PC,PC比较两个处理结果得到ASIC算法测试结果。本申请将SOC芯片采集的ADC数据发送并保存在PC,测试ASIC算法处理模块的数据源从PC获取,使得PC用于分析的数据源与评估ASIC算法处理模块算法性能的数据源相同,保障测试结果的可靠性。
Public/Granted literature
- CN117389869B 毫米波雷达SOC芯片的ASIC算法测试方法、装置、介质 Public/Granted day:2024-04-05
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