发明公开
- 专利标题: 一种传感器寿命评估预测方法、系统、设备及介质
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申请号: CN202311094194.1申请日: 2023-08-28
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公开(公告)号: CN117129026A公开(公告)日: 2023-11-28
- 发明人: 成林 , 毕闯 , 田洪迅 , 杜修明 , 蒲路 , 吴健 , 何丹东 , 王天赐 , 陈伟 , 刘德崇
- 申请人: 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院 , 电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市国家民用航天产业基地航天中路669号
- 专利权人: 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院,电子科技大学
- 当前专利权人: 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院,电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市国家民用航天产业基地航天中路669号
- 代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 李鹏威
- 主分类号: G01D18/00
- IPC分类号: G01D18/00 ; G06F30/20 ; G06F119/14 ; G06F119/08 ; G06F119/02
摘要:
本发明属于传感器可靠性评估技术领域,特别涉及一种传感器寿命评估预测方法、系统、设备及介质;所述传感器寿命评估预测方法包括以下步骤:基于待寿命评估预测的传感器,获取预设时间段的环境应力;基于获取的所述环境应力,计算获得威布尔分布中的位置参数;基于计算获得的所述位置参数,利用预先构建的多物理场耦合单参数寿命预测模型进行寿命评估预测,获得作为传感器寿命指标的平均无故障工作时间。本发明基于多物理场耦合的寿命预测模型进行传感器寿命评估预测,可获得较为准确可靠的寿命预测评估结果。