Invention Grant
- Patent Title: 一种指纹芯片测试设备
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Application No.: CN202311331870.2Application Date: 2023-10-16
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Publication No.: CN117066128BPublication Date: 2024-01-16
- Inventor: 谢健锋 , 罗大维 , 冼伟权
- Applicant: 广东昭信智能装备有限公司
- Applicant Address: 广东省佛山市南海区桂城街道南港大街1号金谷智创产业社区B座首层102单位
- Assignee: 广东昭信智能装备有限公司
- Current Assignee: 广东昭信智能装备有限公司
- Current Assignee Address: 广东省佛山市南海区桂城街道南港大街1号金谷智创产业社区B座首层102单位
- Agency: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- Agent 王统贵
- Main IPC: B07C5/00
- IPC: B07C5/00 ; B07C5/02 ; B07C5/34 ; B07C5/344 ; B07C5/36 ; B07C5/38 ; B65G47/91 ; G01B11/00 ; G01R31/28
Abstract:
本发明公开了一种指纹芯片测试设备,涉及指纹芯片测试设备技术领域。包括机架、输送转盘、上料机构、检测机构、测试机构和下料机构,通过上料机构将物料放置检测机构上对物料的外观合格性进行检测,通过上料机构将检测合格的物料放置到输送转盘上并输送至测试机构处,通过测试机构测试物料导通性和指纹性的合格性,通过下料机构将测试合格和不合格的物料分别放置。如此设置,使用自动化的上料、测试和下料,提升了物料测试的准确性和检测效率,且能够将合格品和外观有缺陷以及导通性、指纹性不合格的不良品进行区别放置,即便在设备连续性的长时间工作状态下,也不会混淆测试后的不良品和合格品,保证了出厂物料的合格准确性。
Public/Granted literature
- CN117066128A 一种指纹芯片测试设备 Public/Granted day:2023-11-17
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