- 专利标题: 基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备
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申请号: CN202310505507.1申请日: 2023-05-08
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公开(公告)号: CN116227239A公开(公告)日: 2023-06-06
- 发明人: 潘广泽 , 李丹 , 陈勃琛 , 孙立军 , 王远航 , 刘文威 , 杨剑锋 , 丁小健
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 景怀宇
- 主分类号: G06F30/20
- IPC分类号: G06F30/20 ; G06F119/14 ; G06F119/04
摘要:
本申请涉及一种基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备。该方法包括:获取待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值;基于灰色预测模型,根据待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值,确定待测产品的性能退化预测函数;基于性能退化预测函数,预测待测产品在各测试时刻下的预测性能值;确定待测产品在各测试时刻下的预测偏差值;基于灰色预测模型,根据待测产品在各测试时刻下的预测偏差值,确定偏差预测函数;采用偏差预测函数,对性能退化预测函数进行修正;基于修正后的性能退化预测函数和待测产品的性能退化失效阈值,确定待测产品的性能退化失效时间。本申请能够提高加速试验数据的分析准确性。
公开/授权文献
- CN116227239B 基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备 公开/授权日:2023-08-04