基于晶圆解理装置的晶圆体金属检测方法及晶圆解理装置
摘要:
本发明提供一种基于晶圆解理装置的晶圆体金属检测方法及晶圆解理装置,包括:通过所述解理装置对所述晶圆进行解理;用雾化的氢氟酸处理所述晶圆的解理面;收集所述解理面上的金属离子;通过ICP‑MS检测出所述晶圆中金属的含量;一种晶圆解理装置,包括:刻刀、机械钳和第一载台,所述第一载台被设置于放置晶圆;所述机械钳被设置于所述晶圆的侧面,用于夹取所述晶圆;所述刻刀被设置于所述晶圆的上方,用于切割所述晶圆。本发明的有益效果是通过自动化解理过程,实现对晶圆的机械化解理,用硅片解理的机械方法,使得硅片的内部表面暴露出来,再结合ICP‑MS,使得硅片中的金属元素的含量能够进行表征,从而更加容易地分析与控制硅片中金属元素的含量。
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