发明公开
- 专利标题: 端接触的方法、光电晶体管的制备方法及光电晶体管
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申请号: CN202110775019.3申请日: 2021-07-08
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公开(公告)号: CN115472712A公开(公告)日: 2022-12-13
- 发明人: 杨雷静 , 李昊 , 忻向军 , 张琦 , 饶岚 , 孙莉萍 , 王宁 , 王拥军 , 田清华 , 田凤
- 申请人: 北京邮电大学
- 申请人地址: 北京市海淀区西土城路10号
- 专利权人: 北京邮电大学
- 当前专利权人: 北京邮电大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西土城路10号
- 代理机构: 北京金咨知识产权代理有限公司
- 代理商 秦景芳
- 主分类号: H01L31/18
- IPC分类号: H01L31/18 ; H01L31/0224 ; H01L31/08 ; H01L31/113
摘要:
本发明提供了一种端接触的方法、光电晶体管的制备方法及光电晶体管,该端接触的方法包括:将低维材料覆盖至目标衬底;将电子束负胶覆盖在低维材料上;对电子束负胶进行图形化和刻蚀,暴露出欲去除部分的低维材料;利用设定气体等离子体刻蚀掉暴露出的低维材料;通过设定镀膜方式对刻蚀掉的低维材料后的电子束负胶覆盖的剩余部分的低维材料镀膜,形成低维材料与金属端接触结构。通过上述方案,能够在常温下,实现低维材料和金属的端接触;端接触结构可有效减小器件的尺寸;应用于多层低维材料,可有效避免因静电屏蔽导致的下层材料无法与下层材料接触的现象。
IPC分类: