Invention Grant
- Patent Title: 一种集多通道孔径检测及纳米孔制备于一体的装置及其使用方法
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Application No.: CN202211135546.9Application Date: 2022-09-19
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Publication No.: CN115464511BPublication Date: 2023-08-01
- Inventor: 侯旭 , 卞发洲 , 郑靖 , 王树立 , 高晗翕
- Applicant: 厦门大学
- Applicant Address: 福建省厦门市思明南路422号
- Assignee: 厦门大学
- Current Assignee: 厦门大学
- Current Assignee Address: 福建省厦门市思明南路422号
- Agency: 厦门市首创君合专利事务所有限公司
- Agent 游学明
- Main IPC: B24B19/16
- IPC: B24B19/16 ; B24B19/22 ; B24B49/00 ; B24B49/10 ; B24B41/06

Abstract:
本发明公开了一种集多通道孔径检测及纳米孔制备于一体的装置及其使用方法,所述的装置,含有夹持器、直线轴承、导电探头、载盘、滚珠轴承、电机、支撑架、主机外壳、人机交互界面和电路。其中,夹持器、直线轴承、载盘、滚珠轴承和电机构成打磨部分;导电探头、人机交互界面和电路构成检测控制部分;将夹持器、直线轴承、导电探头、载盘、滚珠轴承、电机、人机交互界面和电路同时置入主机外壳构成集纳米孔制备及纳米孔孔径检测于一体的装置。本发明实现了多通道孔径实时检测及纳米孔的可控制备,对于在纳米尺度下通道中的科学问题研究中具有广泛的应用前景。
Public/Granted literature
- CN115464511A 一种集多通道孔径检测及纳米孔制备于一体的装置及其使用方法 Public/Granted day:2022-12-13
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