- 专利标题: 铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法
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申请号: CN202210945985.X申请日: 2022-08-08
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公开(公告)号: CN115452871A公开(公告)日: 2022-12-09
- 发明人: 周双清 , 陈胜 , 齐郁 , 徐建平
- 申请人: 武汉科技大学 , 大冶特殊钢有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市青山区和平大道947号;
- 专利权人: 武汉科技大学,大冶特殊钢有限公司
- 当前专利权人: 武汉科技大学,大冶特殊钢有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市青山区和平大道947号;
- 代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 张火春
- 主分类号: G01N23/2202
- IPC分类号: G01N23/2202 ; G01N23/223
摘要:
本发明涉及一种铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法。其技术方案是:称取0.45~0.5g被测样品(精确到0.0001g)和0.9~1.0g碳酸锂,混匀,将得到的混合物移至钴内标四硼酸锂坩埚中,加脱模剂于混合物上;再置于低温电炉中,在490~670℃分四段预氧化,然后转移到盛有硼酸的铂金坩埚中;再移到已升温至1050℃熔融炉中熔融,取出冷却,称量铂金坩埚及其中熔块的质量(精确到0.0001g)。最后根据校准曲线中标准样品玻璃片的平均质量msb和标准样品的称样量mst,得到校正系数和被测组分的质量百分数。本发明分析速度快、称量速度快和无稀释误差。
公开/授权文献
- CN115452871B 铁矿石XRF分析用玻璃片的制备及测量结果的校正方法 公开/授权日:2024-04-16