- 专利标题: 一种聚合物修饰抗体类药物的修饰度的测定方法
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申请号: CN202210312528.7申请日: 2022-03-28
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公开(公告)号: CN114740108B公开(公告)日: 2023-07-14
- 发明人: 张雅慧 , 朱丹丹 , 何平 , 赵鹿 , 赵宣
- 申请人: 天津键凯科技有限公司
- 申请人地址: 天津市滨海新区经济技术开发区西区康诚街9号
- 专利权人: 天津键凯科技有限公司
- 当前专利权人: 天津键凯科技有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市滨海新区经济技术开发区西区康诚街9号
- 代理机构: 北京领科知识产权代理事务所
- 代理商 王立红; 张丹
- 主分类号: G01N30/02
- IPC分类号: G01N30/02 ; G01N30/54 ; G01N30/74 ; G01N27/64
摘要:
本发明公开了一种聚合物修饰抗体类药物的修饰度的测定方法,特别是PEG修饰单克隆抗体的修饰度的测定方法。通过该测定方法,利用LC‑Q‑TOF来计算单抗链上的聚合物(例如PEG)修饰度,无需将不同修饰度的单抗链进行完全的物理分离或色谱分离,利用解卷积出的分子量差值规律,可同时得到轻链和重链上的聚合物(例如PEG)修饰度;而且,无需物理分离,用MALDI‑TOF对高达十几万的聚合物修饰抗体进行分子量检测,也可以对还原拆分后的轻链和重链进行分子量检测,计算出聚合物(例如PEG)修饰度;LC‑Q‑TOF与MALDI‑TOF联合使用,互为补充,互相验证,可以得到重链和轻链更多的修饰信息,使结果更加可靠。
公开/授权文献
- CN114740108A 一种聚合物修饰抗体类药物的修饰度的测定方法 公开/授权日:2022-07-12