一种IC芯片检测上料工装
摘要:
一种IC芯片检测上料工装,属于半导体检测或者物料输送相关技术领域,其包括放置组件,放置组件的一侧设有送料组件,放置组件的另一侧设有倒出组件,本发明在进行IC芯片检测时,方便进行IC芯片的上料操作,而在进行IC芯片上料时,能够根据包装盒的具体结构进行自适应的调节,进而确保包装盒上料的精确性,同时还能稳定地进行下料,并且采用往复运动的方式进行包装盒的推送,提高了包装盒推送的效率,能够自动地进行包装盒的翻转,从而实现了包装盒内IC芯片的倒出,同时在进行IC芯片倒出时能对包装盒的一端进行限位,从而确保了翻转时包装盒的稳定性,具有较强的实用性。
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