发明授权
- 专利标题: 用于表征测试物体的表面形状的设备和方法
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申请号: CN201980091828.3申请日: 2019-12-21
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公开(公告)号: CN113424104B公开(公告)日: 2024-09-03
- 发明人: J.赫茨勒 , H.詹内怀恩
- 申请人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 申请人地址: 德国上科亨
- 专利权人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 当前专利权人: 卡尔蔡司SMT有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国上科亨
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 王蕊瑞
- 国际申请: PCT/EP2019/086881 2019.12.21
- 国际公布: WO2020/164786 DE 2020.08.20
- 进入国家日期: 2021-08-11
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G01B9/02 ; G01B11/24
摘要:
本发明涉及一种用于表征测试物体的表面形状的设备和方法。根据本发明的用于表征测试物体的表面形状的设备具有:测试布置(130,230),用于使用测试波来确定测试物体(111,112,113,211,212,213)的表面形状,其中,该测试波具有由衍射光学元件处的衍射产生的波前;第一真空室(110,210);以及第二真空室(120,220),其中,第二真空室(120,220)具有用于存放至少两个衍射光学元件(121,122,123,221,222,223)的供应室。
公开/授权文献
- CN113424104A 用于表征测试物体的表面形状的设备和方法 公开/授权日:2021-09-21
IPC分类: