- 专利标题: 一种多孔径电连接器的接触可靠性评估方法和评估系统
-
申请号: CN202110655565.3申请日: 2021-06-11
-
公开(公告)号: CN113297751B公开(公告)日: 2023-08-29
- 发明人: 刘鑫雨 , 钱萍 , 王哲 , 陈文华 , 张通 , 钟立强 , 韩坤坤 , 郭明达 , 陈天桃 , 姚华军
- 申请人: 浙江理工大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道2号大街928号
- 专利权人: 浙江理工大学
- 当前专利权人: 浙江理工大学
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道2号大街928号
- 代理机构: 绍兴市寅越专利代理事务所
- 代理商 胡国平
- 主分类号: G06F30/20
- IPC分类号: G06F30/20 ; G06F119/02 ; G06F119/04 ; G06F119/08 ; G06F119/14
摘要:
本发明公开了一种多孔径电连接器的接触可靠性评估方法和评估系统,所述方法包括:对电连接器的接触对进行测试,获得实验数据;根据所述实验数据中的失效率,选择可靠性评估模型;通过最小二乘法和/或极大似然法估,估算出所述可靠性评估模型的参数;根据估计出参数的可靠性评估模型,进行接触对可靠性评估;根据接触对的可靠性评估,对电连接器的可靠性进行评估。考虑不同孔径接触对性能退化速度不一,根据接触对中实验数据的失效率选择适当的可靠性评估模型,进行接触的可靠性评估,最终得出电连接器的可靠性评估。
公开/授权文献
- CN113297751A 一种多孔径电连接器的接触可靠性评估方法和评估系统 公开/授权日:2021-08-24