- 专利标题: 一种选择性刻蚀液组合物及其制备方法和应用
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申请号: CN201811185568.X申请日: 2018-10-11
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公开(公告)号: CN111048415B公开(公告)日: 2023-03-14
- 发明人: 王溯 , 蒋闯 , 季峥 , 李成克
- 申请人: 上海新阳半导体材料股份有限公司
- 申请人地址: 上海市松江区思贤路3600号
- 专利权人: 上海新阳半导体材料股份有限公司
- 当前专利权人: 上海新阳半导体材料股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市松江区思贤路3600号
- 代理机构: 上海弼兴律师事务所
- 代理商 薛琦; 袁红
- 主分类号: H01L21/311
- IPC分类号: H01L21/311 ; H01L21/28
摘要:
本发明公开了一种选择性刻蚀液组合物及其制备方法和应用。本发明选择性刻蚀液组合物,其包括以下组分:如式I所示和/或如式II所示的含硅杂原子化合物,磷酸和水。本发明的选择性刻蚀液组合物在去除3D NAND存储器结构中的氮化层,在7h内可避免氧化物膜层的过刻蚀或负刻蚀。
公开/授权文献
- CN111048415A 一种选择性刻蚀液组合物及其制备方法和应用 公开/授权日:2020-04-21
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