Invention Grant
- Patent Title: 处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置
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Application No.: CN201880039187.2Application Date: 2018-10-26
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Publication No.: CN110770607BPublication Date: 2024-02-13
- Inventor: 山河勉 , 山本修一郎 , 冈田雅宏
- Applicant: 株式会社蛟簿
- Applicant Address: 日本神奈川
- Assignee: 株式会社蛟簿
- Current Assignee: 株式会社蛟簿
- Current Assignee Address: 日本神奈川
- Agency: 中国专利代理(香港)有限公司
- Agent 何欣亭; 李啸
- Priority: 2017-207458 2017.10.26 JP
- International Application: PCT/JP2018/039884 2018.10.26
- International Announcement: WO2019/083014 JA 2019.05.02
- Date entered country: 2019-12-12
- Main IPC: G01T1/36
- IPC: G01T1/36 ; A61B6/40 ; A61B6/42 ; G01N23/087 ; G01N23/18
Abstract:
本发明对具有更宽范围的有效原子序数(Zeff)的元素的对象也以低计算负荷进行更高精度的射束硬化校正，有助于更加定量的X射线图像的提示。对两个以上的X射线能量BIN中所选择的两个X射线能量BIN的X射线衰减量(μt)进行标准化，按照每个像素区域求出至少一个标准化X射线衰减量，根据表示标准化X射线衰减量与元素的有效原子序数之间的理论上的对应关系的参照信息，按照每个像素区域推定至少一个有效原子序数，判断被推定的至少一个有效原子序数(ZHigh、ZLow)以及进行射束硬化校正时预先指定的有效原子序数(Zm)中至少两个原子序数的一(56)对比文件Kimoto N等.Precise materialidentification method based on a photoncounting technique with correction of thebeam hardening effect in X-ray spectra《.Applied Radiation & Isotopes》.2017,第124卷第16-26页.
Public/Granted literature
- CN110770607A 处理光子计数型X射线检测数据的方法及装置、以及X射线装置 Public/Granted day:2020-02-07
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