发明公开
- 专利标题: 与垂直晶体管组合的垂直溢流漏极
- 专利标题(英): VERTICAL OVERFLOW DRAIN COMBINED WITH VERTICAL TRANSISTOR
-
申请号: CN201910402023.8申请日: 2019-05-15
-
公开(公告)号: CN110504277A公开(公告)日: 2019-11-26
- 发明人: 郑源伟 , 陈刚 , 毛杜立 , 戴森·戴 , 林赛·格朗
- 申请人: 豪威科技股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 豪威科技股份有限公司
- 当前专利权人: 豪威科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- 代理商 刘媛媛
- 优先权: 15/984,136 2018.05.18 US
- 主分类号: H01L27/146
- IPC分类号: H01L27/146 ; H04N5/374
摘要:
本申请案涉及与垂直晶体管组合的垂直溢流漏极。图像传感器像素包含:光电二极管,其安置在半导体材料中以响应于入射在所述半导体材料的背侧上的光而产生图像电荷;以及钉扎层,其安置在所述半导体材料中并耦合到所述光电二极管。所述像素还包含垂直溢流漏极,其安置在所述半导体材料中并且耦合到所述钉扎层,使得所述钉扎层安置在所述垂直溢流漏极与所述光电二极管之间。浮动扩散部靠近所述光电二极管安置在所述半导体材料中,及垂直转移晶体管部分安置在所述半导体材料中并且耦合到所述光电二极管,以响应于施加到所述垂直转移晶体管的所述栅极端子的转移信号而将所述图像电荷从所述光电二极管转移到所述浮动扩散部。
公开/授权文献
- CN110504277B 与垂直晶体管组合的垂直溢流漏极 公开/授权日:2023-04-18
IPC分类: