Invention Grant
- Patent Title: 一种离子色谱电化学安培检测用银电极的处理方法
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Application No.: CN201910634484.8Application Date: 2019-07-15
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Publication No.: CN110243976BPublication Date: 2022-04-19
- Inventor: 赵健伟 , 赵博儒 , 孙志 , 于晓辉
- Applicant: 嘉兴学院 , 嘉兴锐泽表面处理技术有限公司
- Applicant Address: 浙江省嘉兴市秀洲区康和路1288号光伏科创园2号楼;
- Assignee: 嘉兴学院,嘉兴锐泽表面处理技术有限公司
- Current Assignee: 嘉兴大学,嘉兴锐泽表面处理技术有限公司
- Current Assignee Address: 314000 浙江省嘉兴市南湖区广穹路899号
- Agency: 北京和信华成知识产权代理事务所
- Agent 胡剑辉
- Main IPC: G01N30/02
- IPC: G01N30/02 ; G01N30/06

Abstract:
本发明公开了一种离子色谱电化学安培检测用银电极的处理方法,涉及离子色谱电化学安培检测技术领域。本发明将机械抛光后银电极置入处理剂溶液,在银电极表面通过定向生长与定向腐蚀协同作用形成稳定银晶粒结构,即以Ag与Ag┼、e‑交换平衡为主,HNO3和甲基磺酸的促进溶解作用为辅,定向腐蚀银晶粒高能面高活性银原子同时,在低能面定向沉积生成低活性银原子,再由缓蚀剂中巯基和氮原子吸附于新生低活性银原子表面来避免其发生溶解,从而促进溶解平衡向低活性银原子生成发展,最终在银电极表面形成多个稳定银晶粒结构,处理后的银电极具备较大真实面积,微观结构均一,具备更强的惰性,可提高离子色谱电化学安培检测的检测电流值上限和检测寿命。
Public/Granted literature
- CN110243976A 一种离子色谱电化学安培检测用银电极的处理方法 Public/Granted day:2019-09-17
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