发明公开
- 专利标题: 具有覆盖结构的MEMS器件结构
- 专利标题(英): MEMS DEVICE STRUCTURE WITH A CAPPING STRUCTURE
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申请号: CN201910164541.0申请日: 2013-12-09
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公开(公告)号: CN109987576A公开(公告)日: 2019-07-09
- 发明人: 郑钧文 , 朱家骅
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京德恒律治知识产权代理有限公司
- 代理商 章社杲; 李伟
- 优先权: 61/775,931 20130311 US 13/925,127 20130624 US
- 主分类号: B81C1/00
- IPC分类号: B81C1/00 ; B81B7/02
摘要:
本发明公开的集成电路器件包括设置在半导体衬底上方的介电层,介电层具有形成在其中的牺牲腔体,形成到介电层上的膜层,以及在膜层上形成的覆盖层从而形成第二腔体,第二腔体通过形成在膜层内的通孔连接至牺牲腔体。本发明还公开了具有覆盖结构的MEMS器件结构。
公开/授权文献
- CN109987576B 一种用于形成集成电路器件的方法 公开/授权日:2021-10-29