- 专利标题: 用于光学元件在线表面洁净监测和处理的装置及方法
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申请号: CN201811243262.5申请日: 2018-10-24
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公开(公告)号: CN109092730B公开(公告)日: 2023-10-20
- 发明人: 蒋一岚 , 苗心向 , 贾宝申 , 吕海兵 , 周国瑞 , 牛龙飞 , 刘昊 , 马志强 , 邹睿 , 刘青安 , 姚彩珍 , 蒋晓东 , 周海
- 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址: 四川省绵阳市科学城绵山路64号
- 专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市科学城绵山路64号
- 代理机构: 绵阳远卓弘睿知识产权代理事务所
- 代理商 张忠庆
- 主分类号: B08B1/00
- IPC分类号: B08B1/00 ; B08B13/00
摘要:
本发明公开了一种用于光学元件在线表面洁净监测和处理的装置及方法,包括:光学元件表面颗粒物在线检测系统,其暗场成像系统位于光学元件的上方且垂直与光学元件;用于对光学元件进行洁净处理的洁净处理装置,其通过水平运动机构和竖直伸缩机构实现对擦拭机构的位置移动,进而可实现对光学元件的表面擦拭;上位机,其与光学元件表面颗粒物在线检测系统和洁净处理机构通信连接。本发明的装置及方法可用于对光学元件的表面进行实时在线监测,同时根据暗场监测的结果来进行非常及时的洁净处理,操作简单便捷,也避免了人工作业带来二次污染的风险,从而减少了光学元件的损伤,有效保障了高功率固体激光装置的稳定运行。
公开/授权文献
- CN109092730A 用于光学元件在线表面洁净监测和处理的装置及方法 公开/授权日:2018-12-28
IPC分类: