Invention Publication
- Patent Title: 具有改善粒子性能的晶片接触表面突部轮廓
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Application No.: CN201780015129.1Application Date: 2017-02-02
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Publication No.: CN108780773APublication Date: 2018-11-09
- Inventor: 林奕宽 , C·瓦尔德弗里德 , J·M·格拉斯科欧
- Applicant: 恩特格里斯公司
- Applicant Address: 美国马萨诸塞州
- Assignee: 恩特格里斯公司
- Current Assignee: 恩特格里斯公司
- Current Assignee Address: 美国马萨诸塞州
- Agency: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- Agent 顾晨昕
- Priority: 62/293,671 2016.02.10 US
- International Application: PCT/US2017/016145 2017.02.02
- International Announcement: WO2017/139163 EN 2017.08.17
- Date entered country: 2018-09-04
- Main IPC: H01L21/683
- IPC: H01L21/683

Abstract:
本发明涉及一种具有整体非弧形顶表面状突部的静电吸盘,所述突部具有与椭圆的部分类似的边缘表面。所述突部的结构导致由所支撑衬底与所述吸盘之间的交互生成的微粒材料减少。通过改善所述突部表面的平滑化及平坦化来达成降低刮擦、打磨、磨损及微粒生成的水平。
Public/Granted literature
- CN108780773B 具有改善粒子性能的晶片接触表面突部轮廓 Public/Granted day:2022-10-21
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IPC分类: