发明授权
- 专利标题： 用于非障碍区检测的系统和方法
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申请号： CN201680053167.1申请日： 2016-08-01
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公开(公告)号： CN108027877B公开(公告)日： 2022-10-18
- 发明人: G·戴恩 , V·巴斯卡兰
- 申请人： 高通股份有限公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 高通股份有限公司
- 当前专利权人： 高通股份有限公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 赵腾飞
- 优先权： 14/858,471 20150918 US
- 国际申请： PCT/US2016/045042 2016.08.01
- 国际公布： WO2017/048383 EN 2017.03.23
- 进入国家日期： 2018-03-14
- 主分类号： G06V20/56
- IPC分类号： G06V20/56 ; G06T7/11 ; G06T7/50
摘要：
本发明描述一种由电子装置执行的方法。所述方法包含执行深度图的垂直处理以确定垂直非障碍估计。所述方法还包含执行所述深度图的水平处理以确定水平非障碍估计。所述方法进一步包含组合所述垂直非障碍估计与所述水平非障碍估计。所述方法另外包含基于所述垂直非障碍估计与所述水平非障碍估计的所述组合而产生非障碍图。
公开/授权文献
- CN108027877A 用于非障碍区检测的系统和方法 公开/授权日：2018-05-11
