发明公开
- 专利标题: 一种形成自对准接触部的方法
- 专利标题(英): Method for forming self-aligned contact portion
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申请号: CN201510580417.4申请日: 2015-09-11
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公开(公告)号: CN106531684A公开(公告)日: 2017-03-22
- 发明人: 赵治国 , 殷华湘 , 朱慧珑 , 赵超
- 申请人: 中国科学院微电子研究所
- 申请人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人: 中国科学院微电子研究所
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
- 代理机构: 北京维澳专利代理有限公司
- 代理商 洪余节; 党丽
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768
摘要:
本发明提供了一种形成自对准接触部的方法,包括:提供衬底,所述衬底上形成有栅堆叠以及位于所述栅堆叠两侧的侧墙,所述侧墙两侧的衬底上形成有源/漏区及位于所述源/漏区之上的金属硅化物层;依序形成阻挡掩膜层及位于所述侧墙之外、所述阻挡掩膜层之上的第二侧墙;形成层间介质层,并进行表面平坦化直至暴露所述栅堆叠;去除所述第二侧墙及与所述第二侧墙相接的所述阻挡掩膜层,暴露所述金属硅化物层;以金属填满凹槽,并进行平坦化直至暴露所述栅堆叠,能有效解决现有技术中无法精确且简易的减小栅极与接触部之间的距离的问题。
公开/授权文献
- CN106531684B 一种形成自对准接触部的方法 公开/授权日:2019-07-16
IPC分类: