发明授权
- 专利标题： 劣化分析方法
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申请号： CN201610135682.6申请日： 2012-11-02
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公开(公告)号： CN105806863B公开(公告)日： 2019-03-15
- 发明人: 金子房惠 , 岸本浩通
- 申请人： 住友橡胶工业株式会社
- 申请人地址： 日本国兵库县神户市中央区胁浜町3丁目6番9号
- 专利权人： 住友橡胶工业株式会社
- 当前专利权人： 住友橡胶工业株式会社
- 当前专利权人地址： 日本国兵库县神户市中央区胁浜町3丁目6番9号
- 代理机构： 上海市华诚律师事务所
- 代理商 杜娟
- 优先权： 2011-242600 2011.11.04 JP
- 主分类号： G01N23/085
- IPC分类号： G01N23/085 ; G01N23/22 ; G01N23/2273 ; G01N33/44
摘要：
本发明提供一种能对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料的劣化状态，特别是表面状态的劣化状态进行详细分析的劣化分析方法。本发明涉及一种劣化分析方法，该方法通过对含有两种以上二烯系聚合物的高分子材料照射高亮度X射线，在改变X射线能量的同时测定X射线吸收量，来分析各二烯系聚合物的劣化状态。
公开/授权文献
- CN105806863A 劣化分析方法 公开/授权日：2016-07-27
